脱臼をどのように特定しますか？
1。透過型電子顕微鏡（TEM）：
-TEMは、転位を直接視覚化するための広く使用されている手法です。
- 薄い標本に高エネルギー電子ビームが照射され、透過電子が画像を形成するために使用されます。
- 脱臼は、結晶格子のライン欠陥または不規則性として現れます。
2。走査型電子顕微鏡（SEM）：
-SEMは、転位の存在を明らかにすることができる別のイメージング技術です。
- SEMでは、焦点を合わせた電子ビームが標本の表面をスキャンし、放出された二次電子が検出されて画像が作成されます。
- 脱臼は、表面のステップまたは不規則性として観察できます。
3。 X線回折：
- X線回折は、材料の結晶構造を研究するために使用される非破壊的な手法です。
- 脱臼は、結晶格子の歪みを引き起こし、X線回折パターンの変化につながる可能性があります。
- これらの変更を分析することにより、脱臼を特定して特徴付けることができます。
4。エッチング技術：
- エッチングは、標本の表面から材料を選択的に除去する化学プロセスです。
- 脱臼は、エッチングの優先部位として機能し、エッチングピットの形成につながる可能性があります。
- エッチングピットは、光学顕微鏡を使用して観察でき、転位の位置と密度に関する情報を提供できます。
5。超音波技術：
- 超音波波は転位と相互作用し、それらを振動させて音響信号を生成することができます。
- 音響信号を分析することにより、転位の存在と特性を決定できます。
6。電気技術：
- 特定の材料では、転位は導電率やキャリア濃度などの電気特性に影響を与える可能性があります。
- これらの電気的変化を測定することにより、転位を特定して研究することができます。
脱臼を識別するために使用される特定の手法は、材料と脱臼の性質によって異なる場合があることに注意することが重要です。