X線技術
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X線蛍光分析
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X線蛍光分光測定は、試験片内で生成されたX線を使用して、固体、粉末、液体のサンプルに存在する特定の元素の濃度を識別および決定する非破壊的な分析手法です。このプロセスは、X線でサンプルによって生成される蛍光放出の個々の成分波長を測定します。要素を測定し、しばしば100万分の1以下のレベルを測定することができます。
X線蛍光は、特に医療ケースや金属、ガラス、セラミック、建築材料の調査で、元素および化学分析に広く使用されています。また、地球化学、法医学、考古学の研究と応用にも有益です。
X線結晶学
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X線結晶学は、結晶内の原子の配置を決定する実験的手法です。研究者は研究対象の分子の固体結晶を成長させることができ、数秒から数時間続くX線の爆風を実行します。このプロセスは、数兆個の同一の分子を含む小さな結晶で強力なX線を照準することを利用します。その後、X線から生成されたパターンを記録および分析して、原子の格子の性質を明らかにします。
結晶学者は、X線装置を制御するために装備されたコンピューターに目的の方向を入力することにより、結晶を正確に回転させます。この手法により、結晶がX線を3次元で散乱または回折する方法をキャプチャできます。
X線光電子分光法
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X線光電子分光法は、定量的分光技術であり、特定の材料内に存在する元素の元素組成、経験式、化学状態、電子状態を測定する化学分析技術です。
表面に敏感な手法として、X線を介した材料の表面化学を内部シェル軌道から放出する電子を分析するために使用されます。また、原子の酸化状態を特定し、さまざまな元素の化学状態情報の元素分析のための重要な情報を取得するのにも役立ちます。表面から深さ約50〜70のアンストロムまで伸びるサンプリングボリュームがあります。
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